필수정보

DLM5000 Series Oscilloscope  

-DLM5034/DLM5054/DLM5038/DLM5058

Key Features 

주요 성능 사양

• 채널 : 아날로그 8채널 +로직 16비트 / 아날로그 8채널 +로직 32비트(/L32 옵션 추가 시)

• 대역폭 : 350MHz, 500MHz 

• 12.1인치, XGA, 터치 스크린

• 8채널 + 8채널 = 16채널 싱크 가능 (Phase plan)

• 4채널 모델 선택가능

주요 특징 

• 1대로 아날로그 8채널 + 로직 32비트를 한번에 측정 가능

-DLM5000은 아날로그 8채널, 로직 32비트 측정이 가능하여 일반적인 오실로스코프 2대분을  1대로 커버할 수 있음.

-센서의 신호나 앰프의 출력은 아날로그 채널로 측정하고 시리얼 버스 신호는 로직채널에서 측정하면 되기 때문에 1대로 충분함.

-4채널 모델로 라인업에 추가 되어있음.

• 쾌적한 터치 스크린 조작

-파형의 위치 이동이나 커서 이동을 할 때 간단하게 터치로 가능

-전압축, 시간축 변경 및 줌 배율을 변경할 때에도 간단한 터치로 조작 가능 

• 12.1 인치 대화면이 제공하는 쾌적한 디버깅 환경

-대형 12.1 인치 터치 스크린(XGA)이 탑재되어 8채널의 아날로그 신호를 자세히 관측하거나 파라미터와 줌 화면 표시, 

 XY표시, FFT 분석 결과 등 디버깅에 유효한 정보를 한꺼번에 표시할 수 있음.

• 간편하고 빠르게 측정

-다채널 입력의 대화면 모델이면서 휴대가 간편한 얇고 가벼운 디자인으로 만들어 졌으며 파형 표시까지 약 18초만에

 고속으로 부팅되어 즉시 측정을 시작할 수 있음.

• 최대 2.5GS/s (8채널 동시) 최대 500MPoint 대용량 메모리

-오실로스코프에서 측정시간과 레코드 길이, 샘플링 속도는 다음 식으로 표시됨.

<기본 관계식> 측정시간 = 레코드 길이 ÷ 샘플링 속도

-일반적으로 측정시간을 길게 하면 레코드 길이는 정해져 있으므로 샘플링 속도는 떨어지게 됨. 

 따라서 일련의 시퀀스 검증과 같은 장시간 측정에서는 샘플링 속도를 고속으로 유지하기 위해서 롱 메모리 필수

-임베디드 시스템 평가에서는  소프트웨어 명령에 의한 동작 검증과 클록 노이즈 등의 고속 신호를 비교적 긴 시간동안

 동시에 볼 필요가 있음. DLM5000은 싱글 모드일 때는 50MPoint / 반복 모드일 때는 12.5MPoint로 메모리를 설정 할 수 있으며

 옵션 추가 시 최대 500MPoint 설정이 가능하여 2.5GS/s의 샘플링 속도로 0.2초간 측정 가능함.

• 2대 싱크 기능으로 최대 아날로그 16채널 측정 가능 (옵션, 추후 발매 예정)

-2eodml DLM5000을 전용 케이블로 연결하면 최대 아날로그 16채널, 로직 64배트 싱크 측정이 가능함.

 메인 유닛에서의 설정은 서브 유닛에서도 공통으로 적용되며 파형 포착은 각각의 유닛에서 표시됩니다. 싱크 인터페이스는

 본체에서 표준으로 제공되며 옵션 추가 라이선스로 바로 사용할 수 있음. 4채널 모델 2대, 4채널과 8채널 모델도 같이 사용 가능함.

• 과거 파형을 자동으로 최대 100,000개를 저장하는 히스토리 기능

-일반적으로 오실로스코프는 최신 파형을 표시하기 때문에 과거 파형은 없어짐. DLM5000은 유저가 특별히 설정하지 않아도

 과거 파형을 최대 100,000개 파형 메모리에 저장함. 히스토리 기능에서 과거 파형을 1개씩 표시할 수도 있고 모든 파형을

 한꺼번에 표시할 수 있음. 또한 히스토리 파형에 대해 커서 측정 및 연산도 할 수 있음

• 히스토리 기능은 다음과 같은 상황에 매우 효과적

 트리거를 걸 수 없고 트리거 조건이 까다로우며, DUT를 사용할 수 있는 시간이 제한되어 있는 경우 

 -에지 트리거로 일단 측정하고 나중에 서치를 통해 원하는 파형을 찾을 수 있음 

복잡한 트러블 분석

 -과거 파형을 하나씩 분석 할 수 있음.

 -다채널에서의 히스토리 파형 분석을 통해 트러블 원인을 찾을 수 있음. 

지터 관측

 -중첩(어큐뮬레이트)표시 기능은 이미지이기 때문에 지터의 여부는 관측할 수 있지만 채널간 시간 딜레이는 측정할 수 없음. 

 -히스토리 기능에서의 중첩은 실제의 측정 파형 데이터이기때문에 커서로 채널 간 시간 딜레이를 측정 할 수 있음

 • 최대 100,000개의 방대한 히스토리 파형 중에서 원하는 파형을 바로 찾을 수 있는 히스토리 서치 기능이 있음

-서치 조건을 4개까지 설정

-서치 조건에 맞는 파형만 추출 가능

-서치한 파형 데이터는 커서 및 메져 기능 사용 가능

-서치한 파형 데이터를 개별적으로 저장 가능

파형 조건 검색 예

-사각존 : 보고 싶은 파형의 일부를 추출하기 위한 사각형 존 지정

-파형존 : 보고 싶은 파형 전체를 둘러싸는 존 지정

-다각형존 : PC에서 만든 다각형존 지정

-파형 파라미터 : 전압이나 펄스 폭 등으로 서치

   • 줌&서치 기능

  -줌배율을 다르게 설정할 수 있는 줌 창이 2개 있어 파형 분석을 효율적으로 할 수 있음.

  -전용키와 확대/축소 노브 조작, 터치로 확대하고 싶은 영역을 지정해서 줌도 가능.

  -줌 배율을 다르게 해서 파형을 2곳에서 동시에 표시할 수 있음.

  -AutoScroll 기능으로 줌 표시 위치를 자동으로 스크롤 할 수 있음.

• 줌&서치 기능

        -줌 창에 표시된 파형으로부터 조건에 맞는 파형을 서치해서 줌 창에서 표시함.

        -서치한 파형의 위치는 화면 내에 ▼마크로 표시됨.

        -검색조건 [edge, edge(qualified), state/paterm, pulse width, state width, serial bus] 

            • 복잡한 파형도 관측가능한 풍부한 트리거 기능

    -간단하게 설정할 수 있는 엣지 트리거, 복잡한 현상을 파악하는 확장 트리거나 B트리거 등 아날로그 입력과 로직 입력을 

     조합한 다채로운 트리거 기능을 탑재하고 있음. 디지털 트리거 방식을 탑재하여 오차와 지터가 적은 정확한 트리거 실현.

    -예) Runt 트리거 예

     외부 입력 신호를 클럭으로 동기화하는 회로에서는 metastable 현상으로 인해 펄스 폭이 좁거나 신호레벨이 규정치에

     달하지 않는 이상 파형이 발생하는 일이 있어 문제의 원인이 됨. 이러한 현상을 측정할 때 Runt 트리거가 유용함.

     예를 들면 Runt 트리거는 일정한 펄스 열 속에서 규정된 레벨까지 다 올라오지 못하고 low 레벨로 떨어진 어중간한

     펄스(Runt pulse)를 검출하여 트리거 합니다.

Spec  

  ※ 자세한 사항은 상단 다운로드 'Datasheet'나 'Manual'을 참조해 주세요.